Publication detail
Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM?
TOMÁNEK, P.
Czech title
Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?
English title
Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM?
Type
journal article - other
Language
cs
Original abstract
Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňuje bezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního a reflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.
Czech abstract
Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňuje bezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního a reflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.
English abstract
Modern areas of research and technology need the resolution behind the limit given by classical optical and confocal microscopes. Scaning near-field optical microscope (SNOM) enables non-contact, non-destructive local measurement of physical and chemical characteristics of transmission and reflection samples with lateral superresolution better than 100 nm. This feature allows to use the microscope as a power tool for nanotechnological applications. The comparision of transmission and reflection types with STM and AFM is provided.
Keywords in Czech
Optika v blízkém poli,rastrovací optický mikroskop s lokální sondou, STM, AFM, aplikace, vnitřní fotoemise, nanolitografie, povrchové plazmony
Keywords in English
Near-field optics, scanning near field optical microscope, STM, AFM, applications, internal photoemission, nanolithography, surface plasmons
RIV year
2001
Released
01.04.2001
ISSN
0009-0700
Volume
51
Number
1
Pages count
5
BIBTEX
@article{BUT39616,
author="Pavel {Tománek},
title="Optická mikroskopie v blízkém poli – alternativa, či soupeř STM a AFM?",
year="2001",
volume="51",
number="1",
month="April",
issn="0009-0700"
}