Detail publikace
Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?
TOMÁNEK, P.
Český název
Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?
Anglický název
Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM?
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňuje bezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního a reflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.
Český abstrakt
Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňuje bezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního a reflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.
Anglický abstrakt
Modern areas of research and technology need the resolution behind the limit given by classical optical and confocal microscopes. Scaning near-field optical microscope (SNOM) enables non-contact, non-destructive local measurement of physical and chemical characteristics of transmission and reflection samples with lateral superresolution better than 100 nm. This feature allows to use the microscope as a power tool for nanotechnological applications. The comparision of transmission and reflection types with STM and AFM is provided.
Klíčová slova česky
Optika v blízkém poli,rastrovací optický mikroskop s lokální sondou, STM, AFM, aplikace, vnitřní fotoemise, nanolitografie, povrchové plazmony
Klíčová slova anglicky
Near-field optics, scanning near field optical microscope, STM, AFM, applications, internal photoemission, nanolithography, surface plasmons
Rok RIV
2001
Vydáno
01.04.2001
ISSN
0009-0700
Ročník
51
Číslo
1
Počet stran
5
BIBTEX
@article{BUT39616,
author="Pavel {Tománek},
title="Optická mikroskopie v blízkém poli – alternativa, či soupeř STM a AFM?",
year="2001",
volume="51",
number="1",
month="April",
issn="0009-0700"
}