Detail publikace

Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?

TOMÁNEK, P.

Český název

Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?

Anglický název

Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM?

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňuje bezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního a reflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.

Český abstrakt

Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňuje bezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního a reflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.

Anglický abstrakt

Modern areas of research and technology need the resolution behind the limit given by classical optical and confocal microscopes. Scaning near-field optical microscope (SNOM) enables non-contact, non-destructive local measurement of physical and chemical characteristics of transmission and reflection samples with lateral superresolution better than 100 nm. This feature allows to use the microscope as a power tool for nanotechnological applications. The comparision of transmission and reflection types with STM and AFM is provided.

Klíčová slova česky

Optika v blízkém poli,rastrovací optický mikroskop s lokální sondou, STM, AFM, aplikace, vnitřní fotoemise, nanolitografie, povrchové plazmony

Klíčová slova anglicky

Near-field optics, scanning near field optical microscope, STM, AFM, applications, internal photoemission, nanolithography, surface plasmons

Rok RIV

2001

Vydáno

01.04.2001

ISSN

0009-0700

Ročník

51

Číslo

1

Počet stran

5

BIBTEX


@article{BUT39616,
  author="Pavel {Tománek},
  title="Optická mikroskopie v blízkém poli – alternativa, či soupeř STM a AFM?",
  year="2001",
  volume="51",
  number="1",
  month="April",
  issn="0009-0700"
}