Publication detail

Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek

NOVOTNÝ, R.

Czech title

Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek

Type

conference paper

Language

cs

Original abstract

Článek prezentuje zrychlené zkoušky v komplexu problematiky zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek.

Czech abstract

Článek prezentuje zrychlené zkoušky v komplexu problematiky zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek.

Keywords in Czech

akcelerované spolehlivostní testy, spolehlivost, elektronické součátky, mechanismus poruchy

Released

01.01.2000

Location

Brno

ISBN

80-214-1781-1

Book

20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT

Pages count

6

BIBTEX


@inproceedings{BUT3859,
  author="Radovan {Novotný},
  title="Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek",
  booktitle="20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT",
  year="2000",
  month="January",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1781-1"
}