Detail publikace
Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek
NOVOTNÝ, R.
Český název
Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Článek prezentuje zrychlené zkoušky v komplexu problematiky zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek.
Český abstrakt
Článek prezentuje zrychlené zkoušky v komplexu problematiky zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek.
Klíčová slova česky
akcelerované spolehlivostní testy, spolehlivost, elektronické součátky, mechanismus poruchy
Vydáno
01.01.2000
Místo
Brno
ISBN
80-214-1781-1
Kniha
20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT
Počet stran
6
BIBTEX
@inproceedings{BUT3859,
author="Radovan {Novotný},
title="Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek",
booktitle="20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT",
year="2000",
month="January",
address="Brno",
isbn="80-214-1781-1"
}