Detail publikace

Noise reliability indicators for PN junction devices

HRUŠKA, P.

Anglický název

Noise reliability indicators for PN junction devices

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

en

Originální abstrakt

A measurable quantity Mq, based on the noise of a PN junction microelectronic device, is introduced. Its relation with reliability of the device and furher properties are described.

Anglický abstrakt

A measurable quantity Mq, based on the noise of a PN junction microelectronic device, is introduced. Its relation with reliability of the device and furher properties are described.

Klíčová slova anglicky

noise, reliability, PN junction

Rok RIV

2001

Vydáno

15.11.2001

Nakladatel

VUT Brno

Místo

Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, Ústav fyziky,Brno

ISBN

80-214-1992-X

Kniha

Nové trendy ve fyzice

Číslo edice

1

Počet stran

4

BIBTEX


@inproceedings{BUT7051,
  author="Pavel {Hruška},
  title="Noise reliability indicators for PN junction devices",
  booktitle="Nové trendy ve fyzice",
  year="2001",
  month="November",
  publisher="VUT Brno",
  address="Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, Ústav fyziky,Brno",
  isbn="80-214-1992-X"
}