Detail publikace
Noise reliability indicators for PN junction devices
HRUŠKA, P.
Anglický název
Noise reliability indicators for PN junction devices
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
en
Originální abstrakt
A measurable quantity Mq, based on the noise of a PN junction microelectronic device, is introduced. Its relation with reliability of the device and furher properties are described.
Anglický abstrakt
A measurable quantity Mq, based on the noise of a PN junction microelectronic device, is introduced. Its relation with reliability of the device and furher properties are described.
Klíčová slova anglicky
noise, reliability, PN junction
Rok RIV
2001
Vydáno
15.11.2001
Nakladatel
VUT Brno
Místo
Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, Ústav fyziky,Brno
ISBN
80-214-1992-X
Kniha
Nové trendy ve fyzice
Číslo edice
1
Počet stran
4
BIBTEX
@inproceedings{BUT7051,
author="Pavel {Hruška},
title="Noise reliability indicators for PN junction devices",
booktitle="Nové trendy ve fyzice",
year="2001",
month="November",
publisher="VUT Brno",
address="Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, Ústav fyziky,Brno",
isbn="80-214-1992-X"
}