Detail produktu
Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013
VAVŘÍK, I. HOLUB, M. BLECHA, P. BRADÁČ, F. KARPÍŠEK, Z.
Český název
Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013
Anglický název
Development of methodology and etalons for acuracy testing of CMM with optic scanning head and optic CMM Project number 4.2 PT 01/013
Typ
ověřená technologie
Český abstrakt
Zajištění a prokázání metrologické návaznosti CMM s optickými snímacími systémy a optických CMM prostřednictvím vývoje vhodného systému zkoušení přesnosti složeného z hmotných etalonů rozměru (zkušební tělesa), metodiky pro vyhodnocování zkoušek přesnosti a stochastického modelování.
Anglický abstrakt
Determining and proving metrologic links between CMM and optical scanning systems and optical CMM by developing a suitable precision testing system consisting of dimension mass standards (testing bodies), methodology of precision testing evaluation, and stochastic modelling.
Datum vzniku
27.11.2008
Umístění
ÚVSSR ZL - SERVIS, s.r.o.