Detail publikace
Lokální spektroskopie pomocí optického rastrovacího mikroskopu v blízkém poli
LÉTAL, P. TOMÁNEK, P. DOBIS, P. BRÜSTLOVÁ, J. GRMELA, L.
Český název
Lokální spektroskopie pomocí optického rastrovacího mikroskopu v blízkém poli
Anglický název
Local spectroscopy by scanning near-field optical microscopy
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
en
Originální abstrakt
The photoluminescence (PL) spectroscopy has for a long time been established as a very efficient, nondestructive technique for the evaluation of semiconductor materials and heterostructures. At room temperature, the band-gap-energy of ternary and quaternary epitaxial layers can be determined from the position of the PL peak, and the half-width of the PL curve is correlated with the free-carrier concentration. Both these parameters are important for the preparation of new epitaxial layers and structures for optoelectronic devices and applications. The comparison of PL obtained in the Near-field optical region and corresponding electroluminescent spectra in the Far-field from diodes based on investigated material helps to analyze the relative contributions – of the material luminescence (PL), and – the wave-guiding properties of the heterostructure, to the spectrum emitted from the diode edge.
Český abstrakt
Spektroskopická měření fotoluminiscence byla dlouhou dobu považována za velmi účinnou nedestruktivní techniku pro zjišťování vlastností polovodičových rozhraní.S nástupem optického rastrovacího tunelového mikroskopu je možné provádět tato měření v pokojové teplotě a normýlním tlaku. Článek přináší porovnání fotoluminiscenčních spekter v blízké a vzdálené optické oblasti a ukazuje na některé z předností měření v blízkém poli.
Anglický abstrakt
The photoluminescence (PL) spectroscopy has for a long time been established as a very efficient, nondestructive technique for the evaluation of semiconductor materials and heterostructures. At room temperature, the band-gap-energy of ternary and quaternary epitaxial layers can be determined from the position of the PL peak, and the half-width of the PL curve is correlated with the free-carrier concentration. Both these parameters are important for the preparation of new epitaxial layers and structures for optoelectronic devices and applications. The comparison of PL obtained in the Near-field optical region and corresponding electroluminescent spectra in the Far-field from diodes based on investigated material helps to analyze the relative contributions – of the material luminescence (PL), and – the wave-guiding properties of the heterostructure, to the spectrum emitted from the diode edge.
Klíčová slova česky
fotoluminiscence, lokální charakteristiky, SNOM
Klíčová slova anglicky
photoluminescence, local characteristics, SNOM,
Rok RIV
2004
Vydáno
02.05.1998
ISSN
1210-2717
Časopis
Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics
Ročník
5
Číslo
3
Počet stran
4
BIBTEX
@article{BUT41424,
author="Petr {Létal} and Pavel {Tománek} and Pavel {Dobis} and Jitka {Brüstlová} and Lubomír {Grmela},
title="Local spectroscopy by scanning near-field optical microscopy",
journal="Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics",
year="1998",
volume="5",
number="3",
month="May",
issn="1210-2717"
}