Detail publikace
Diagnostika a nejistoty měření
VDOLEČEK, F.
Český název
Diagnostika a nejistoty měření
Anglický název
Diagnostics and Uncertainties in Measurement
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
cs
Originální abstrakt
Základem objektivní diagnózy je získání diagnostických parametrů na příslušném stroji nebo zařízení. Tato operace je realizována pomocí měřicí techniky. Nepřesnost prvků měřicího řetězce je v dnešní době udávána pomocí nejistot měření. Příspěvek se zamýšlí nad vlivem těchto nejistot na technickou diagnostiku, především pak na výslednou diagnózu.
Český abstrakt
Základem objektivní diagnózy je získání diagnostických parametrů na příslušném stroji nebo zařízení. Tato operace je realizována pomocí měřicí techniky. Nepřesnost prvků měřicího řetězce je v dnešní době udávána pomocí nejistot měření. Příspěvek se zamýšlí nad vlivem těchto nejistot na technickou diagnostiku, především pak na výslednou diagnózu.
Anglický abstrakt
Extraction of diagnostic parameter on monitoring machine is fundament of objective diagnosis. The operation is executed by using measuring technique. Inaccuracy of members measuring circuit is determined by using uncertainties in measurement in the time. This paper is intended above effect this uncertainties on technical diagnostics and resultant diagnosis especially.
Klíčová slova česky
nejistota měření, technická diagnostika, zdroj nejistot
Klíčová slova anglicky
uncertainties in measurement, technical diagnostics, source of uncertainties
Rok RIV
2000
Vydáno
12.04.2000
Nakladatel
VUT v Brně - Academia centrum FT ve Zlíně
Místo
Zlín (Česká republika)
ISBN
80-214-1578-9
Kniha
TD 2000 - DIAGON 2000
Počet stran
6
BIBTEX
@inproceedings{BUT2025,
author="František {Vdoleček},
title="Diagnostika a nejistoty měření",
booktitle="TD 2000 - DIAGON 2000",
year="2000",
month="April",
publisher="VUT v Brně - Academia centrum FT ve Zlíně",
address="Zlín (Česká republika)",
isbn="80-214-1578-9"
}